HD-E環(huán)境模擬測(cè)試儀儀器用途：
該產(chǎn)品適用于電工電子產(chǎn)品、材料、零部件等在淋雨、溫度條件下的適應(yīng)性及可靠性試驗(yàn)。也可用于外部照明和信號(hào)裝置及汽車(chē)燈具外殼防護(hù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：工作室設(shè)有照明裝置。
淋雨時(shí)間、淋雨間隔時(shí)間、雨量強(qiáng)度分別調(diào)節(jié)與控制。
環(huán)境模擬測(cè)試儀信譽(yù)的。

Name: 環(huán)境模擬測(cè)試儀HD-E708
Brand: 海達(dá)儀器
Availability: InStock

產(chǎn)品型號(hào)：HD-E708

更新時(shí)間：2025-05-19

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn) 量：2472

服務(wù)熱線(xiàn)

13602382905

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產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

工業(yè)烤箱

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產(chǎn)品介紹

快速溫變?cè)囼?yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介

? 快速溫變?cè)囼?yàn)箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

快速溫變?cè)囼?yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)

? GB/T5170.2-2008《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；

? GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》；
? GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Bb》；
? IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分試驗(yàn).試驗(yàn)N溫度的改變》。

2. HD-E708-快速溫度變化試驗(yàn)箱_01.jpg